品牌：牛津Oxford型号：CMI-563
CMI 563：表面铜厚测试仪 CMI 563系列表面铜厚测试仪专为测量刚性或柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。CMI 563采用微电阻测试技术，提供了准确和精确测量表面铜铜厚（包括覆铜板、化学铜和电镀铜板）的方法。由于采用了市场上最为先进的测试技术，印刷电路板背面铜层不会对测量结果产生影响创新性的CMI 563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换，更换探针更为方便和经济。CMI 563可由用户选择铜箔类型――非电镀铜和电镀铜；甚至无需用户校准，即可测量线形铜箔厚度。NIST（美国国家标准和技术学会）认证的校验用标准片有不同厚度可供选购。高品质的CMI 563由保修和OICM世界级的客户服务全力支持。
CMI563便携式面铜测厚仪规格说明：准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片精确度：非电镀铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm铜厚测量范围：非电镀铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)线形铜可测线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)存储量：13,500条读数尺寸：5 7/8英寸(长)×3 1/8英寸(宽)×1 3/16英寸(高) （14.9×7.94×3.02厘米）重量：9盎司（0.26千克）包括电池单位：通过一个按键实现英制和公制的自动转换电池：9伏电池电池寿命：65小时连续使用接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机显示：4数位LCD液晶显示，2数位存储位置，字符高1/2英寸（1.27厘米）统计显示：测量个数，标准差，平均值，最大值，最小值。
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